LT2100激光粒度儀廣泛用于磨粒、制藥、化工、電池材料，地質，水文等行業的顆粒表征分析。隨著粉體技術的發展，對粒度分析儀的性能要求在逐步的提高，特殊是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達到幾百甚至幾十個納米，測量上限要求達到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度儀設計提出了大的挑戰。
顆粒越細，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360°范圍內都有分布。為了拓展儀器的測量下限。需要有特別規的光學設計。顆粒越小，分布在360°空間范圍的散射光光強差越小，當顆粒小到一定極限，光強差將小得幾乎難以被辨別出來。這時就到了激光粒度儀的測量下限了。光學設計上的障礙和散射光本身的特性打算了常規激光粒度儀的測量下限一般在0.02μm左右。當顆粒較大時，同樣也會遇到技術困難。大顆粒的散射角度很小，不簡單辨別和測量。要想有效辨別大顆粒的光強分布?？珊啙嵉睦L聚焦鏡頭的焦距，但焦距大將導致激光粒度儀的體積大幅增加，且特別不便于小顆粒的大角度散射光探測。同時對鏡頭的加工精度要求也會更高。
LT2100激光粒度儀的分析軟件功能簡析：
1.軟件設計模塊化，儀器狀態可視化，操作界面人性化。
2.SOP標準操作流程減少人為因素的影響，使分析測試流程標準化。
3.多種數據分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要。
4.具備自檢功能，自動識別進樣系統。
5.每次測量前能自動測量電背景，有效消除電噪聲對測試結果的影響。
6.多種方式的測量數據導出，方便數據交流。
7.體積分布、表面積分布、長度分布和數量分布之間可以相互轉換。
